氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法

Test method for full width at half maximum of double crystal X-ray rocking curve of Ga2O3 single crystal substrate

T/ZSA 231-2024其他标准

现行

更新日期:2026-03-28

标准状态

发布日期

2024-05-15

实施日期

2024-05-16

基础信息

标准号

T/ZSA 231-2024

标准分类

标准层级

团体标准

主要技术内容

本文件描述了利用双晶X射线衍射仪测试氧化镓单晶片摇摆曲线及其半高宽的方法。本文件适用于熔体法、液相法及气相法生长的β相氧化镓单晶片,对前述单晶片进行化学或机械抛光后的样品同样适用于此方法。

起草单位

中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟、北京镓创科技有限公司、北京聚睿众邦科技有限公司、北京邮电大学、北京聚仪共享科技有限公司

起草人

李培刚、宫学源、闫方亮、李龙、杨丽霞、王进进、朱勋、郑红军、刘祎晨、刘紫洋

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