直接还原铁化学分析方法 第7部分：多元素的测定 X射线荧光光谱法

本部分规定了直接还原铁中二氧化硅、氧化钙、氧化镁、磷、氧化铝、锰、二氧化钛、氧化钾、铜含量的测定方法。 本部分适用于直接还原铁中二氧化硅、氧化钙、氧化镁、磷、氧化铝、锰、二氧化钛、氧化钾、铜含量的测定。各组分测定范围（质量分数）见表1。 表1　各组分测定范围 组分 测定范围（质量分数）/% SiO2 0.25～10.00 CaO 0.10～10.00 MgO 0.10～10.00 P 0.010～2.00 Al2O3 0.10～14.00 Mn 0.10～5.00 TiO2 0.010～10.00 K2O

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