Test methods for minority carrier lifetime in bulk silicon and germanium—Photoconductivity decay method
现行
2023-08-06
2024-03-01
GB/T 1553-2023
国家标准委
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
国家标准委
H21
77.040
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| HG/T 3802-2014 | 工业电导仪 | 现行 | 2014-12-24 | 2015-06-01 |
| T/CASAS 026-2023 | 碳化硅少数载流子寿命测定微波光电导衰减法 | 现行 | 2023-06-19 | 2023-06-19 |
| GB/T 21216-2007 | 绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法 | 现行 | 2007-12-03 | 2008-05-20 |
| GB/T 26800-2011 | 电导电极 | 现行 | 2011-07-29 | 2011-12-01 |
| T/CACM 1089-2018 | 中医治未病技术操作规范 电导法穴位测评 | 现行 | 2018-09-17 | 2018-11-15 |
| GB/T 35727-2017 | 中低压直流配电电压导则 | 现行 | 2017-12-29 | 2018-07-01 |