Test methods for minority carrier lifetime in bulk silicon and germanium—Photoconductivity decay method
现行
2023-08-06
2024-03-01
GB/T 1553-2023
国家标准委
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
国家标准委
H21
77.040
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 21216-2007 | 绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法 | 现行 | 2007-12-03 | 2008-05-20 |
| GB/T 35727-2017 | 中低压直流配电电压导则 | 现行 | 2017-12-29 | 2018-07-01 |