Test methods for minority carrier lifetime in bulk silicon and germanium—Photoconductivity decay method
2023-08-06
2024-03-01
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 35727-2017 | 中低压直流配电电压导则 | 现行 | 2017-12-29 | 2018-07-01 |
| HG/T 3802-2006 | 工业电导仪 | 现行 | 2006-01-17 | 2006-07-01 |
| T/CACM 1089-2018 | 中医治未病技术操作规范 电导法穴位测评 | 现行 | 2018-09-17 | 2018-11-15 |
| GB/T 1553-2009 | 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| JB/T 6153-1992 | 静电复印机光电导鼓用清洁刮板 技术条件 | 废止 | 1992-05-15 | 1993-01-01 |
| JB/T 9368-1999 | 电导电极 通用技术条件 | 废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| HG/T 3802-2014 | 工业电导仪 | 现行 | 2014-12-24 | 2015-06-01 |
| T/CACM 1089-2018 | 中医治未病技术操作规范 电导法穴位测评 | 现行 | 2018-09-17 | 2018-11-15 |
| T/CASAS 026-2023 | 碳化硅少数载流子寿命测定微波光电导衰减法 | 现行 | 2023-06-19 | 2023-06-19 |