Test method for determining interstitial oxygen content in silicon by infrared absorption
现行
2018-09-17
2019-06-01
GB/T 1557-2018
国家标准委
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
H17
77.040
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 16516-1996 | 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第2部分:分规范 能力批准 | 现行 | 1996-09-09 | 1996-05-01 |
| GB/T 16517-1996 | 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第3部分:分规范 鉴定批准 | 现行 | 1996-09-09 | 1997-05-01 |
| NB/T 10200-2019 | 晶体硅太阳电池组件用聚烯烃弹性体(POE)封装绝缘胶膜 | 现行 | 2019-06-04 | 2019-10-01 |
| GB/T 8553-2023 | 晶体盒总规范 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-01-01 |
| GB/T 12633-1990 | 压电晶体性能测试术语 | 现行 | 1990-12-28 | 1991-10-01 |
| DB21/T 4203-2025 | 党政机关类公共机构碳排放定额 | 现行 | 2025-11-27 | 2025-12-27 |