表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法

Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials

GB/T 22572-2008 推荐性国家标准

现行

标准状态

发布日期

2008-12-11

实施日期

2009-10-01

基础信息

标准号

GB/T 22572-2008

批准发布部门

中国科学院

发布部门

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口

中国科学院

是否采用国际标准

该标准采用国际标准

标准分类

中国标准分类号

G04

国际标准分类号

71.040.40

标准层级

国家标准

专题

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