Test method for the thickness of silicon oxide on Si substrate by ellipsometer
现行
2014-09-30
2015-04-15
GB/T 31225-2014
中国科学院
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
中国科学院
J04
17.040.01
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| QX/T 610-2021 | X波段双偏振多普勒天气雷达 | 现行 | 2021-05-10 | 2021-09-01 |
| QX/T 462-2018 | C波段双线偏振多普勒天气雷达 | 现行 | 2018-12-12 | 2019-04-01 |
| QX/T 464-2018 | S波段双线偏振多普勒天气雷达 | 现行 | 2018-12-12 | 2019-04-01 |
| DB51/T 3141-2023 | 转基因饲料生产加工企业生物安全控制技术规范 | 现行 | 2023-12-29 | 2024-01-29 |