Test method for the surface roughness by atomic force microscope for sputtered thin films
现行
2014-09-30
2015-04-15
GB/T 31227-2014
中国科学院
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
中国科学院
J04
17.040.20
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
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| DL/T 599-2025 | 中压配电网改造技术导则 | 现行 | 2025-09-28 | 2026-03-28 |
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