GB/T 33657-2017 纳米技术晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范

Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells

标准状态

2017-05-12

2017-12-01

GB/T 33657-2017

中国科学院

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

中国科学院

L56

31.200

国家标准

标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
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