纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范

Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells

GB/T 33657-2017推荐性国家标准

现行

更新日期:2026-03-08

标准状态

发布日期

2017-05-12

实施日期

2017-12-01

基础信息

标准分类

中国标准分类号

L56

国际标准分类号

31.200

标准层级

国家标准

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