Test methods for endurance and data retention of non-volatile memory
2018-03-15
2018-08-01
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB 12594-2008 | 工作基准试剂 溴酸钾 | 现行 | 2008-06-18 | 2009-06-01 |
| SJ/T 11585-2016 | 串行存储器接口要求 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| DL/T 2343.3-2025 | 电能计量设备用元器件技术规范 第3部分：非易失性存储器 | 即将实施 | 2025-12-18 | 2026-06-18 |
| T/QGCML 3002-2024 | 安全数据存储器加密芯片驱动系统 | 现行 | 2024-01-22 | 2024-02-06 |
| GB/T 35003-2018 | 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-08-01 |
| SJ/T 11701-2018 | 通用NAND型快闪存储器接口 | 现行 | 2018-02-09 | 2018-04-01 |
| GB/T 35009-2018 | 串行NAND型快闪存储器接口规范 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-08-01 |