Test methods for endurance and data retention of non-volatile memory
现行
2018-03-15
2018-08-01
GB/T 35003-2018
工业和信息化部（电子）
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）
L56
31.200
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 11701-2018 | 通用NAND型快闪存储器接口 | 现行 | 2018-02-09 | 2018-04-01 |
| GB/T 35009-2018 | 串行NAND型快闪存储器接口规范 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-08-01 |
| GB/T 35008-2018 | 串行NOR型快闪存储器接口规范 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-08-01 |
| GB 12594-2008 | 工作基准试剂 溴酸钾 | 现行 | 2008-06-18 | 2009-06-01 |