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Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging
现行
2022-10-14
2023-05-01
GB/T 41805-2022
中国兵器工业集团公司
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
中国兵器工业集团公司
N05
81.040.01
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| DB61/T 1687-2023 | 手机显示屏光学参数测量技术规范 | 现行 | 2023-05-25 | 2023-06-25 |
| GB/T 44567-2024 | 光学晶体 紫外级氟化钙晶体 | 现行 | 2024-09-29 | 2025-04-01 |
| GB/T 42219-2022 | 大功率LED的光学测量 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-07-01 |
| GB/T 3371-2013 | 光学分度头 | 现行 | 2013-12-17 | 2014-07-15 |
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| GB/T 34894-2017 | 微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法 | 现行 | 2017-11-01 | 2018-05-01 |
| GB/T 31379.2-2025 | 平板显示器偏光片测试方法 第2部分：光学性能 | 即将实施 | 2025-10-05 | 2026-05-01 |
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