Test method for surface quality and micropipe density of polished silicon carbide wafers—Confocal and differential interferometry optics
现行
2023-11-27
2024-06-01
GB/T 43313-2023
国家标准委
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
国家标准委
H21
77.040
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YD/T 1460.3-2006 | 通信用气吹微型光缆及光纤单位 第3部分：微管、微管束和微管附件 | 现行 | 2006-12-11 | 2007-01-01 |
| T/IAWBS 010-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| GB/T 30868-2025 | 碳化硅单晶片微管密度测试方法 | 现行 | 2025-08-01 | 2026-02-01 |
| T/IAWBS 012-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| GB/T 587-2008 | 船用法兰青铜截止阀 | 现行 | 2008-10-20 | 2009-04-01 |