Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere
现行
2018-09-17
2019-01-01
GB/T 4937.13-2018
工业和信息化部（电子）
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
该标准采用国际标准
L40
31.080.01
国家标准
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