半导体器件机械和气候试验方法第2部分:低气压

Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 2: Low air pressure

GB/T 4937.2-2006 推荐性国家标准

现行

标准状态

发布日期

2006-08-23

实施日期

2007-02-01

基础信息

标准号

GB/T 4937.2-2006

批准发布部门

工业和信息化部（电子）

发布部门

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口

工业和信息化部（电子）

是否采用国际标准

该标准采用国际标准

标准分类

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

标准层级

国家标准

专题

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