Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 2: Low air pressure
2006-08-23
2007-02-01
GB/T 4937.2-2006
该标准采用国际标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 20624.1-2006 | 色漆和清漆 快速变形(耐冲击性)试验 第1部分：落锤试验（大面积冲头) | 现行 | 2006-09-01 | 2007-02-01 |
| GB/T 27963-2026 | 人居环境气候舒适度评价 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2026-12-01 |
| GB/T 4937.29-2025 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分：闩锁试验 | 即将实施 | 2025-12-02 | 2026-07-01 |
| GB/T 4937.25-2025 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分：温度循环 | 即将实施 | 2025-12-02 | 2026-07-01 |
| DB14/T1994-2020 | 酥梨气候品质评价 | 废止 | 2020-06-10 | 2020-08-10 |
| DB2114/T 007-2024 | 旅游气候舒适度评价 | 废止 | 2024-12-23 | 2025-01-23 |