Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 2: Low air pressure
现行
2006-08-23
2007-02-01
GB/T 4937.2-2006
工业和信息化部（电子）
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）
该标准采用国际标准
L40
31.080.01
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
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