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半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 23:High temperature operating life

GB/T 4937.23-2023推荐性国家标准

现行

更新日期：2026-03-02
半导体器件机械气候试验

标准状态

发布日期

2023-05-23

实施日期

2023-12-01

基础信息

标准号

GB/T 4937.23-2023

批准发布部门

工业和信息化部（电子）

发布部门

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

技术归口

工业和信息化部（电子）

是否采用国际标准

该标准采用国际标准

标准分类

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

标准层级

国家标准

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