半导体器件机械和气候试验方法第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

GB/T 4937.30-2018 推荐性国家标准

现行

标准状态

发布日期

2018-09-17

实施日期

2019-01-01

基础信息

标准号

GB/T 4937.30-2018

批准发布部门

工业和信息化部（电子）

发布部门

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口

工业和信息化部（电子）

是否采用国际标准

该标准采用国际标准

标准分类

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

标准层级

国家标准

专题

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