Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
现行
2018-09-17
2019-01-01
GB/T 4937.30-2018
工业和信息化部（电子）
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）
该标准采用国际标准
L40
31.080.01
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 45749-2025 | 市场和社会调查 定性和定量数据预处理与分析 | 现行 | 2025-05-30 | 2025-05-30 |
| NY/T 3526-2019 | 农情监测遥感数据预处理技术规范 | 现行 | 2019-12-27 | 2020-04-01 |
| QX/T 213-2013 | 温室气体玻璃采样瓶预处理和后处理方法 | 现行 | 2013-12-22 | 2014-05-01 |
| GB/T 20194-2018 | 动物饲料中淀粉含量的测定 旋光法 | 现行 | 2018-05-14 | 2018-12-01 |