半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 32:Flammability of platic-encapsulated devices(externally induced)

GB/T 4937.32-2023推荐性国家标准

现行

相似
更新日期:2026-03-02

标准状态

发布日期

2023-05-23

实施日期

2023-12-01

基础信息

标准号

GB/T 4937.32-2023

是否采用国际标准

该标准采用国际标准

标准分类

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

标准层级

国家标准

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