Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 33: Accelerated moisture resistance—Unbiased autoclave
即将实施
2025-12-02
2026-07-01
GB/T 4937.33-2025
工业和信息化部（电子）
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）
该标准采用国际标准
L40
31.080.01
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 4937.24-2025 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分：加速耐湿 无偏置强加速应力试验 | 即将实施 | 2025-12-02 | 2026-07-01 |
| JC/T 2399-2017 | 偏置电场下材料热释电系数测试方法 | 现行 | 2017-04-12 | 2017-10-01 |
| T/IAWBS 009-2019 | 功率半导体器件稳态湿热高压偏置试验 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| GB/T 37255-2018 | 偏置电场下材料热释电系数测试方法 | 现行 | 2018-12-28 | 2019-11-01 |
| GB/T 20913-2007 | 乘用车正面偏置碰撞的乘员保护 | 现行 | 2007-04-30 | 2007-12-01 |
| GB/T 19275-2025 | 材料在特定微生物作用下潜在生物分解和崩解能力的评价 | 即将实施 | 2025-12-02 | 2026-07-01 |