硅抛光片表面质量目测检验方法

Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection

GB/T 6624-2009推荐性国家标准

现行

更新日期:2026-02-14

标准状态

发布日期

2009-10-30

实施日期

2010-06-01

基础信息

标准分类

中国标准分类号

H80

国际标准分类号

29.045

标准层级

国家标准

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