Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection
现行
2009-10-30
2010-06-01
GB/T 6624-2009
国家标准委
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
H80
29.045
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| DB37/T 3176-2018 | 乡村创业创新服务平台建设规范 | 现行 | 2018-04-25 | 2018-05-25 |