半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法

SJ/T 11706-2018 SJ电子

现行

标准状态

发布日期

2018-02-09

实施日期

2018-04-01

基础信息

标准号

SJ/T 11706-2018

批准发布部门

工业和信息化部

技术归口

全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会

制修订

制定

标准分类

中国标准分类号

L55

国际标准分类号

31.2

行业分类

信息传输、软件和信息技术服务业

标准类别

标准分类

电子

标准层级

行业标准

备案信息

备案号

63632-2018

备案日期

2018-05-25

起草单位

中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所等

起草人

刘芳、尹航、胡海涛 等

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