现行
2013-12-31
2014-07-01
JB/T 11602.1-2013
工业和信息化部
全国试验机标准化技术委员会
制定
N78
无
机械
行业标准
44528-2014
2014-12-26
辽宁仪表研究所、广州国技试验仪器有限公司等
徐波、张力 等
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| JB/T 5750-2014 | 气象仪器防盐雾、防潮湿、防霉菌 工艺技术要求 | 现行 | 2014-07-14 | 2014-11-01 |
| JB/T 11603.2-2013 | 无损检测仪器 声发射 设备特性 第2部分:操作特性验证 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 7411-2012 | 无损检测仪器 电磁轭磁粉探伤仪技术条件 | 现行 | 2012-05-24 | 2012-11-01 |
| JB/T 6220-2011 | 无损检测仪器 射线探伤用密度计 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-04-01 |
| JB/T 11603.1-2013 | 无损检测仪器 声发射 设备特性 第1部分:设备描述 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 9462-1999 | 气象仪器用自记纸 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9332-1999 | 大地测量仪器 仪器与三脚架之间的连接 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 11607-2013 | 无损检测仪器 工业用X射线轮胎检测系统 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 11234-2011 | 无损检测仪器 工业软X射线探伤机 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-04-01 |
| JB/T 7976-2010 | 轮廓法测量表面粗糙度的仪器 术语 | 现行 | 2010-02-21 | 2010-07-01 |
| JB/T 11605-2013 | 无损检测仪器 金属磁记忆检测仪 技术条件 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 9294-1999 | 测磁仪器 基本系列 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9351-1999 | 电子光学仪器 包装通用技术条件 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 11259-2011 | 无损检测仪器 多频涡流检测仪 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-04-01 |
| JB/T 11611-2013 | 无损检测仪器 涡流-磁记忆综合检测仪 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 11276-2012 | 无损检测仪器 超声波探头型号命名方法 | 现行 | 2012-05-24 | 2012-11-01 |
| JB/T 13936-2020 | 无损检测仪器 磁粉检测用磁化设备技术要求 | 现行 | 2020-04-16 | 2021-01-01 |
| JB/T 13938-2020 | 无损检测仪器 渗透检测装置基本要求 | 现行 | 2020-04-16 | 2021-01-01 |
| JB/T 11278-2012 | 无损检测仪器 工业X射线探伤机 通用技术条件 | 现行 | 2012-05-24 | 2012-11-01 |
| JB/T 11279-2012 | 无损检测仪器 线阵列涡流探头 | 现行 | 2012-05-24 | 2012-11-01 |
| JB/T 11612-2013 | 无损检测仪器 涡流-漏磁综合检测仪 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 11780-2014 | 无损检测仪器 阵列涡流检测仪性能和检验 | 现行 | 2014-05-12 | 2014-10-01 |
| JB/T 13935-2020 | 无损检测仪器 超声检测 超声衍射声时检测仪 | 现行 | 2020-04-16 | 2021-01-01 |
| JB/T 11260-2011 | 无损检测仪器 声脉冲检测仪 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-04-01 |
| JB/T 2542-1991 | 光学计量仪器用光学机械测微装置通用技术条件 | 现行 | 1991-07-16 | 1992-07-01 |
| JB/T 11813.3-2014 | 纵剪机 第3部分:精度 | 现行 | 2014-05-12 | 2014-10-01 |
| JB/T 6237.10-2008 | 电触头材料用银粉化学分析方法 第10部分:重量法测定氯化银含量 | 现行 | 2008-03-12 | 2008-09-01 |