| 技术指标 | 100GHz间隔要求 | 50GHz间隔要求 | 测试条件 |
|---|---|---|---|
| 插入损耗 | ≤4.5dB | ≤5.5dB | 标称中心波长,室温 |
| 相邻通道隔离度 | ≥25dB | ≥25dB | 相邻通道输入,非测试通道输出 |
| 非相邻通道隔离度 | ≥30dB | ≥30dB | 非相邻通道输入,测试通道输出 |
| 偏振相关损耗 | ≤0.5dB | ≤0.5dB | 全偏振态变化 |
| 高频问题与执行痛点 | 标准化落地对策 |
|---|---|
| 高低温测试中插入损耗漂移超标 | 严格依据标准执行温度循环试验,优化器件内部热应力匹配,采用低温度系数材料封装,确保温变范围内损耗变化量≤0.5dB。 |
| 偏振相关损耗测试数据离散性大 | 规范偏振控制器操作步骤,确保测试系统校准精度,采用琼斯矩阵法或穆勒矩阵法进行全偏振态扫描,剔除环境振动干扰。 |
| 通道中心波长偏移导致系统串扰 | 引入波长计进行出厂全检,将中心波长偏差控制在标准规定的±2.5GHz以内,建立波长溯源机制。 |
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YD/T 1289.6-2009 | 同步数字体系(SDH)传送网网络管理技术要求 第6部分:基于IDL/IIOP技术的网元管理系统(EMS)-网络管理系统(NMS)接口信息模型 | 现行 | 2009-12-11 | 2010-01-01 |