现行
2011-12-20
2012-07-01
YS/T 34.1-2011
工业和信息化部
全国有色金属标准化技术委员会
修订
H17
77.040.30
无
有色金属
行业标准
35536-2012
2014-12-26
峨嵋半导体材料厂、峨嵋山嘉美高纯材料有限公司
程高明、邹同贵 等
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 1288.4-2018 | 高纯锌化学分析方法 第4部分：痕量元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2018-10-22 | 2019-04-01 |
| YS/T 555.10-2009 | 钼精矿化学分析方法 铼量的测定 硫氰酸盐分光光度法 | 废止 | 2009-12-04 | 2010-06-01 |
| YS/T 1047.1-2015 | 铜磁铁矿化学分析方法 第1部分：铜量的测定 2,2′-联喹啉分光光度法和火焰原子吸收光谱法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
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| GB/T 4325.19-2013 | 钼化学分析方法 第19部分：铬量的测定 二苯基碳酰二肼分光光度法 | 现行 | 2013-05-09 | 2014-02-01 |
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| GB/T 14352.11-2010 | 钨矿石、钼矿石化学分析方法 第11部分：铋量测定 | 现行 | 2010-11-10 | 2011-02-01 |
| GB/T 14506.12-2010 | 硅酸盐岩石化学分析方法 第12部分：氟量测定 | 现行 | 2010-11-10 | 2011-02-01 |
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| YS/T 556.10-2011 | 锑精矿化学分析方法 第10部分：铜量的测定 火焰原子吸收光谱法 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-07-01 |
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| GB/T 40110-2021 | 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定硅片表面元素污染 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
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| YS/T 34.3-2011 | 高纯砷化学分析方法 极谱法测定硫量 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-07-01 |