硅单晶电阻率标准样片校准规范

Calibration Specification for Standard Slices of Single Crystal Silicon Resistivity

JJF 1760-2019 计量规范

现行

标准状态

发布日期

2019-09-27

实施日期

2020-03-27

基础信息

标准号

JJF 1760-2019

批准发布部门

国家市场监督管理总局

技术归口

全国无线电计量技术委员会

标准分类

标准层级

计量规范

起草单位

中国计量科学研究院

起草人

高英、李兰兰

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