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31.080.01 半导体器分立件综合
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31.080.01 半导体器分立件综合 第3页
标准号
标准名称
状态
发布日期
实施日期
T/CASAS 047-2024
SiC MOSFET动态高温高湿反偏(DH3RB)试验方法
现行
2024-11-19
2024-11-19
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