| GB/T 5730-1985 | 电子设备用固定电阻器 第二部分:分规范 低功率非线绕固定电阻器 (可供认证用) | 现行 | 1985-11-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 6661-1986 | 插入式耳机的乳头状接头 | 现行 | 1986-07-31 | 1987-08-01 |
| GB/T 5081-1985 | 电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据收集指南 | 现行 | 1985-04-17 | 1986-01-01 |
| GB/T 6643-1986 | 通用硬同轴传输线及其法兰连接器总规范 | 现行 | 1986-07-31 | 1987-06-01 |
| GB/T 6253-1986 | 电子设备用B类微调可变电容器类型规范 | 现行 | 1986-04-10 | 1987-04-01 |
| GB/T 5733-1985 | 电子设备用固定电阻器 第四部分:空白详细规范 功率型固定电阻器 评定水平E (可供认证用) | 现行 | 1985-11-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 5731-1985 | 电子设备用固定电阻器 第二部分:空白详细规范 低功率非线绕固定电阻器 评定水平E(可供认证用) | 现行 | 1985-11-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 6254-1986 | 电子设备用C类预调可变电容器类型规范 | 现行 | 1986-04-10 | 1987-04-01 |
| GB/T 6252-1986 | 电子设备用A类调谐可变电容器类型规范 | 现行 | 1986-04-10 | 1987-04-01 |
| GB/T 6648-1986 | 半导体集成电路静态读/ 写存储器空白详细规范(可供认证用) | 现行 | 1986-07-31 | 1987-08-01 |
| GB/T 5076-1985 | 具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量 | 废止 | 1985-04-16 | 1985-12-01 |
| GB/T 5734-1985 | 电子设备用固定电阻器 第五部分:分规范 精密固定电阻器 (可供认证用) | 现行 | 1985-09-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 2689.2-1981 | 寿命试验和加速寿命试验的图估计法 (用于威布尔分布) | 现行 | 1981-06-22 | 1981-10-01 |
| GB/T 3873-1983 | 通信设备产品包装通用技术条件 | 现行 | 1983-10-06 | 1984-05-01 |
| GB/T 2689.4-1981 | 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布) | 现行 | 1981-06-22 | 1981-10-01 |
| GB/T 4192-1984 | 电真空器件及电光源用钨、钼材料电阻率的测试方法 | 现行 | 1984-03-09 | 1984-11-01 |
| GB/T 2689.3-1981 | 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) | 现行 | 1981-06-22 | 1981-10-01 |
| GB/T 4196-1984 | 钨、钼条密度测定方法 | 现行 | 1984-03-09 | 1984-11-01 |
| GB/T 4195-1984 | 钨、钼粉末粒度分布测试方法(沉降天平法) | 现行 | 1984-03-09 | 1984-11-01 |
| GB/T 2689.1-1981 | 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法 总则 | 现行 | 1981-06-22 | 1981-10-01 |