| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 6145-2010 | 锰铜、康铜精密电阻合金线、片及带 | 现行 | 2010-12-01 | 2011-05-01 |
| JB/T 5328-1991 | 镍铬基精密电阻合金裸线及聚酯漆包线 | 废止 | 1991-07-09 | 1992-07-01 |
| YB/T 6203-2024 | 镍铬及镍铬基精密电阻合金带 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| YS/T 1717-2024 | 铜基精密电阻合金 牌号和化学成分 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| JB/T 9502-2025 | 锰铜精密电阻合金 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| GB/T 42657-2023 | 红外光学玻璃红外折射率温度系数测试方法 垂直入射法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| QX/T 163-2012 | 空盒气压表（计）温度系数箱测试方法 | 现行 | 2012-08-30 | 2012-11-01 |
| GB/T 7962.4-2010 | 无色光学玻璃测试方法 第4部分：折射率温度系数 | 现行 | 2011-01-14 | 2011-05-01 |
| GB/T 15489.3-1995 | 滤光玻璃测试方法 截止波长温度系数 | 现行 | 1995-01-29 | 1995-09-01 |
| SJ/T 10459-1993 | 太阳电池温度系数测试方法 | 现行 | 1993-12-17 | 1994-06-01 |
| GB/T 7962.16-2010 | 无色光学玻璃测试方法 第16部分：线膨胀系数、转变温度和弛垂温度 | 现行 | 2011-01-14 | 2011-05-01 |
| SJ/T 11488-2015 | 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| GB/T 11297.7-1989 | 锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法 | 现行 | 1989-03-31 | 1990-01-01 |
| T/CSMT-YB 006-2023 | 精密数字温度计性能测试与评价方法 | 现行 | 2023-11-24 | 2023-11-30 |
| JB/T 7900-2002 | 高电阻电热合金电阻随温度变化试验方法 | 现行 | 2002-12-27 | 2003-04-01 |
| JB/T 7900-1995 | 高电阻电热合金电阻随温度变化的试验方法 | 废止 | 1996-04-14 | 1996-04-14 |
| GB/T 45723-2025 | 印制电路板测试方法温度循环状态下镀覆孔单孔电阻的变化 | 现行 | 2025-05-30 | 2025-12-01 |
| DB3411/T 0054-2024 | 《数显热电阻温度变送器射频电磁场测试方法》 | 废止 | 2024-12-10 | 2024-12-26 |