| SJ/T 11279-2002 | 电子设备用压敏电阻器 第3部分：空白详细规范 防雷指示型过电压保护器 评定水平E | 现行 | 2003-03-01 | 相似 |
| SJ/T 11278-2002 | 电子设备用压敏电阻器 第3部分：分规范 防雷型压敏电阻器 | 现行 | 2003-03-01 | 相似 |
| SJ/T 11278.4.2-2014 | 电子设备用压敏电阻器 第4部分：分规范 片式压敏电阻器 | 现行 | 2015-04-01 | 相似 |
| SJ/T 11482-2014 | 电子设备用压敏电阻器 MYP型片式压敏电阻器详细规范 评定水平E | 现行 | 2015-04-01 | 相似 |
| SJ/T 11278.4.1-2014 | 电子设备用压敏电阻器 第4部分：空白详细规范 片式压敏电阻器 评定水平E | 现行 | 2015-04-01 | 相似 |
| GB/T 12635-1990 | 碳膜电阻器用陶瓷基体 | 现行 | 1991-10-01 | 相似 |
| SJ/T 10322-1992 | 金属膜固定电阻器用陶瓷基体 | 现行 | 1992-12-01 | 相似 |
| GB/T 18802.331-2024 | 低压电涌保护器元件 第331部分：金属氧化物压敏电阻（MOV）的性能要求和试验方法 | 现行 | 2024-09-01 | 相似 |
| GB/T 18802.331-2007 | 低压电涌保护器元件 第331部分：金属氧化物压敏电阻（MOV）规范 | 废止 | 2008-02-01 | 相似 |
| JB/T 9670-2014 | 金属氧化物避雷器电阻片用氧化锌 | 现行 | 2014-10-01 | 相似 |
| T/QGCML 4795-2024 | 高梯度氧化锌电阻片技术规范 | 现行 | 2024-11-02 | —— |
| SJ/T 10619-1995 | RYG2型金属氧化膜电阻器 | 废止 | 1995-10-01 | 相似 |
| SJ/T 10618-2022 | 电子设备用固定电阻器详细规范 RYG1型金属氧化膜功率型固定电阻器评定水平E | 现行 | 2023-01-01 | 相似 |
| SJ/T 10619-2022 | 电子设备用固定电阻器详细规范 RYG2型金属氧化膜功率型固定电阻器 评定水平E | 现行 | 2023-01-01 | 相似 |
| SJ/T 10618-1995 | RYG1型金属氧化膜电阻器 | 现行 | 1995-10-01 | 相似 |
| JC/T 2407-2017 | 陶瓷用氧化锌化学分析方法 | 现行 | 2017-10-01 | 相似 |
| GB/T 12276-1990 | 电子设备用固定电阻器 第七部分:分规范 各电阻器不可单独测量的固定电阻网络 (可供认证用) | 现行 | 1990-10-01 | 相似 |
| GB/T 12277-1990 | 电子设备用固定电阻器 第七部分:空白详细规范 各电阻器不可单独测量的固定电阻网络 评定水平 E (可供认证用) | 现行 | 1990-10-01 | 相似 |