Test method for the content of metal impurity in electronic grade polysilicon—Inductively coupled-plasma mass spectrometry method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| DB1310/T 227-2020 | 电子专用材料单晶硅生长用石英坩埚工艺技术规范 | 废止 | 2020-11-16 | 找相似 |
| GB/T 13744-1992 | 磁性和非磁性基体上镍电镀层厚度的测量 | 现行 | 1993-08-01 | 找相似 |
| GB/T 12635-1990 | 碳膜电阻器用陶瓷基体 | 现行 | 1991-10-01 | 找相似 |
| SN/T 5065-2018 | 玩具基体材料中总铅含量的测定 火焰原子吸收光谱法 | 现行 | 2018-10-01 | 找相似 |
| GB/T 31522-2015 | 基体与超导体体积比测试 Nb3Sn复合超导线铜与非铜体积比 | 现行 | 2015-12-01 | 找相似 |
| GB/T 16457.2-2023 | 金刚石圆锯片基体 第2部分：用于烧结锯片 | 现行 | 2024-06-01 | 找相似 |
| GB/T 39169-2020 | 金刚石圆锯片基体 安装和固定孔 建筑施工和土木工程 | 现行 | 2021-05-01 | 找相似 |
| GB/Z 41313-2022 | 金刚石圆锯片基体 | 现行 | —— | 找相似 |
| GB/T 24181-2022 | 金刚石焊接锯片基体用钢 | 现行 | 2023-05-01 | 找相似 |
| JB/T 8554-1997 | 气相沉积薄膜与基体附着力的划痕试验法 | 现行 | 1998-01-01 | 找相似 |
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| YS/T 84-2020 | 光谱分析用铱基体 | 现行 | 2021-04-01 | 找相似 |
| YS/T 85-2020 | 光谱分析用铑基体 | 现行 | 2021-04-01 | 找相似 |
| YS/T 82-2020 | 光谱分析用铂基体 | 现行 | 2021-04-01 | 找相似 |
| YS/T 881-2013 | 火法冶炼镍基体料 | 现行 | 2013-09-01 | 找相似 |
| YS/T 83-2020 | 光谱分析用钯基体 | 现行 | 2021-04-01 | 找相似 |
| GB/T 4956-2003 | 磁性基体上非磁性覆盖层 覆盖层厚度测量 磁性法 | 废止 | 2004-05-01 | 找相似 |
| GB/T 16457.1-2023 | 金刚石圆锯片基体 第1部分：用于焊接锯片 | 现行 | 2024-04-01 | 找相似 |