| SJ/T 11011-2015 | 电子器件用纯银纤料中杂质含量铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES测定方法 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-04-01 |
| GB/T 6150.11-2026 | 钨精矿化学分析方法 第11部分：杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 即将实施 | 2026-05-25 | 2026-12-01 |
| XB/T 616.2-2012 | 钆铁合金化学分析方法 第2部分：稀土杂质含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2012-11-07 | 2013-03-01 |
| XB/T 614.5-2011 | 钆镁合金化学分析方法 第5部分：稀土杂质含量的测定 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-07-01 |
| XB/T 621.2-2016 | 钬铁合金化学分析方法 第2部分：稀土杂质含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2016-07-11 | 2017-01-01 |
| YS/T 1012-2014 | 高纯镍化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2014-10-14 | 2015-04-01 |
| YS/T 1011-2014 | 高纯钴化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2014-10-14 | 2015-04-01 |
| YS/T 244.9-2008 | 高纯铝化学分析方法 第9部分：电感耦合等离子体质谱法测定杂质含量 | 废止 | 2008-03-12 | 2008-09-01 |
| SN/T 2047-2008 | 进口铜精矿中杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 废止 | 2008-04-29 | 2008-11-01 |
| SN/T 1504.5-2005 | 食品容器、包装用塑料原料 第5部分：聚烯烃中杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法 | 废止 | 2005-02-17 | 2005-07-01 |
| YS/T 923.2-2013 | 高纯铋化学分析方法 第2部分：痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2013-10-17 | 2014-03-01 |
| YS/T 630-2007 | 氧化铝化学分析方法 氧化铝杂质含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 废止 | 2007-04-13 | 2007-10-01 |
| SH/T 0336-1992 | 润滑脂机械杂质含量测定法(显微镜法) | 废止 | 1992-05-20 | 1992-05-20 |
| DB63/T 1611-2017 | 光纤预制棒原料四氯化硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 废止 | 2017-12-18 | 2018-03-01 |
| DB15/T 1243-2017 | 树脂中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 | 废止 | 2017-09-10 | 2017-12-10 |
| DB15/T 1239-2017 | 多晶硅生产净化氢气用活性炭中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 | 废止 | 2017-09-10 | 2017-12-10 |
| DB15/T 925-2015 | 单一稀土氧化物中非稀土杂质化学分析方法 电感耦合等离子体质谱法测定氧化铝、氧化铬、氧化锰、氧化钴、氧化镍、氧化铜、氧化锌、氧化铅、氧化镉和氧化砷含量 | 废止 | 2015-11-30 | 2016-02-28 |
| DB51/T 2044-2015 | 高纯度五氧化二钒 杂质元素含量的测定方法 | 废止 | 2015-09-25 | 2016-01-01 |