Test method for the oxygen concentration in silicon materials—Inert gas fusion infrared detection method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 1164-2016 | 硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 | 现行 | 2016-07-11 | 2017-01-01 |
| DB35/T 1146-2011 | 硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2011-04-10 | 2011-07-10 |
| DB5111/T 14-2021 | 硅材料工业企业能源管理规范 | 现行 | 2021-12-01 | 2021-12-01 |
| GB/T 41605-2022 | 滚动轴承球用氮化硅材料 室温压痕断裂阻力试验方法 压痕法 | 现行 | 2022-07-11 | 2023-02-01 |
| GB/T 44751-2024 | 精细陶瓷 滚动轴承球及滚子用氮化硅材料 | 现行 | 2024-10-26 | 2025-05-01 |
| GB/T 30453-2013 | 硅材料原生缺陷图谱 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-10-01 |
| GB/T 16175-2008 | 医用有机硅材料生物学评价试验方法 | 现行 | 2008-01-22 | 2008-09-01 |
| GB/T 29850-2013 | 光伏电池用硅材料补偿度测量方法 | 现行 | 2013-11-12 | 2014-04-15 |
| T/CPIA 0060-2024 | 铸造单晶硅材料性能评价技术规范 | 现行 | 2024-03-10 | 2024-03-15 |
| T/CASAS 009-2019 | 半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2019-11-25 | 2019-11-25 |
| GB/T 4298-1984 | 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法 | 废止 | 1984-03-28 | 1985-03-01 |
| T/CASAS 009-2019 | 半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2019-11-25 | 2019-11-25 |
| MH/T 6139-2025 | 舱内非金属材料燃烧产生毒性气体的浓度测试方法 | 现行 | 2025-08-09 | 2025-09-01 |
| GB 30979-2014 | 海洋倾倒物质评价规范 惰性无机地质材料 | 现行 | 2014-07-24 | 2015-06-01 |
| T/CSTM 00308-2023 | 相变建筑构件及制品热惰性测试方法 | 现行 | 2023-07-07 | 2023-10-07 |
| GB 20936.4-2008 | 可燃性气体探测用电气设备 第4部分：显示气体体积含量至100%的II类探测器的性能要求 | 废止 | 2008-12-30 | 2010-02-01 |
| GB/T 20936.3-2009 | 可燃性气体探测用电气设备 第3部分：显示空气中甲烷体积含量至100%的I类探测器的性能要求 | 废止 | 2009-04-21 | 2009-11-01 |
| GB 20936.2-2009 | 可燃性气体探测用电气设备 第2部分：显示空气中甲烷体积含量至5%的I类探测器的性能要求 | 废止 | 2009-09-30 | 2010-06-01 |