Non-destructive testing instruments—Performance and testintg rules of industrial digital X-ray imaging system
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| JB/T 13940-2020 | 无损检测仪器 涡流电导率检测仪 | 现行 | 2020-04-16 | 2021-01-01 |
| JB/T 11602.2-2013 | 无损检测仪器 X射线管电压的测量和评定 第2部分： 用厚滤光板法作持久校验 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 13150-2017 | 无损检测仪器 涡流检测仪用变阵列探头 | 现行 | 2017-04-12 | 2018-01-01 |
| JB/T 11277-2012 | 无损检测仪器 单通道声阻抗检测仪 | 现行 | 2012-05-24 | 2012-11-01 |
| JB/T 11260-2011 | 无损检测仪器 声脉冲检测仪 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-04-01 |
| JB/T 13935-2020 | 无损检测仪器 超声检测 超声衍射声时检测仪 | 现行 | 2020-04-16 | 2021-01-01 |
| JB/T 11780-2014 | 无损检测仪器 阵列涡流检测仪性能和检验 | 现行 | 2014-05-12 | 2014-10-01 |
| JB/T 11612-2013 | 无损检测仪器 涡流-漏磁综合检测仪 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 11279-2012 | 无损检测仪器 线阵列涡流探头 | 现行 | 2012-05-24 | 2012-11-01 |
| JB/T 13938-2020 | 无损检测仪器 渗透检测装置基本要求 | 现行 | 2020-04-16 | 2021-01-01 |
| JB/T 13936-2020 | 无损检测仪器 磁粉检测用磁化设备技术要求 | 现行 | 2020-04-16 | 2021-01-01 |
| JB/T 11276-2012 | 无损检测仪器 超声波探头型号命名方法 | 现行 | 2012-05-24 | 2012-11-01 |
| JB/T 11611-2013 | 无损检测仪器 涡流-磁记忆综合检测仪 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 11259-2011 | 无损检测仪器 多频涡流检测仪 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-04-01 |
| JB/T 11605-2013 | 无损检测仪器 金属磁记忆检测仪 技术条件 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 11603.1-2013 | 无损检测仪器 声发射 设备特性 第1部分：设备描述 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 6220-2011 | 无损检测仪器 射线探伤用密度计 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-04-01 |
| JB/T 7411-2012 | 无损检测仪器 电磁轭磁粉探伤仪技术条件 | 现行 | 2012-05-24 | 2012-11-01 |