| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 20510-2024 | 氧化铟锡靶材 | 现行 | 2024-09-29 | 2025-04-01 |
| GB/T 38389-2019 | 氧化铟锡靶材化学分析方法 | 现行 | 2019-12-31 | 2020-11-01 |
| T/ZZB 0629-2018 | 继电器触点用合金内氧化法银氧化锡氧化铟线材 | 现行 | 2018-10-19 | 2018-11-01 |
| GB/T 20510-2024 | 氧化铟锡靶材（外文版EN） | 现行 | 2025-05-21 | |
| YS/T 1533-2022 | 氧化铟 | 现行 | 2022-09-30 | 2023-04-01 |
| YS/T 1617.2-2023 | 氧化铟化学分析方法 第2部分：砷含量的测定 原子荧光光谱法 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-07-01 |
| YS/T 1616-2023 | 氧化铟锌靶材 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-07-01 |
| YS/T 1617.1-2023 | 氧化铟化学分析方法 第1部分：镉、钴、铜、铁、锰、镍、锑、铅、铊含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-07-01 |
| SJ/T 11489-2015 | 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| GB/T 20230-2006 | 磷化铟单晶 | 废止 | 2006-04-21 | 2006-10-01 |
| GB/T 20510-2006 | 氧化铟锡靶材 | 废止 | 2006-09-26 | 2007-02-01 |
| GB/T 20510-2017 | 氧化铟锡靶材 | 废止 | 2017-10-14 | 2018-05-01 |
| DB34/T 1760-2012 | 氧化铟锡透明导电膜玻璃 | 废止 | 2012-12-24 | 2013-01-24 |
| GB/T 11297.6-1989 | 锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法 | 现行 | 1989-03-31 | 1990-01-01 |
| GB/T 11297.7-1989 | 锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法 | 现行 | 1989-03-31 | 1990-01-01 |
| T/ZZB 0629-2018 | 继电器触点用合金内氧化法银氧化锡氧化铟线材 | 现行 | 2018-10-19 | 2018-11-01 |
| YS/T 1711-2024 | 氧化铟锡靶材绑定技术规范 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| YS/T 1780-2025 | 氧化铟镓锌靶材 | 现行 | 2025-04-10 | 2025-11-01 |