Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 3: Test method for mean coefficient of linear expansion
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 4937.35-2024 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-07-01 |
| DB6101/T 3138-2022 | 电子元器件检测与筛选服务规程 | 现行 | 2022-10-14 | 2022-11-14 |
| JB/T 6175-2020 | 电子元器件引线成型工艺规范 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-07-01 |
| GB/T 42706.2-2023 | 电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-09-01 |
| GB/T 42706.5-2023 | 电子元器件 半导体器件长期贮存 第5部分：芯片和晶圆 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-09-01 |
| GB/T 37034.2-2018 | 航空电子过程管理 防伪 第2部分：来源于非授权经销商电子元器件的管理 | 废止 | 2018-12-28 | 2019-07-01 |
| GB/T 42706.1-2023 | 电子元器件 半导体器件长期贮存 第1部分：总则 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-09-01 |
| GB/T 28858-2012 | 电子元器件用酚醛包封料 | 现行 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
| HG/T 6101-2022 | 电子元器件包装用上下胶粘带 | 现行 | 2022-09-30 | 2023-04-01 |
| GB/T 33772.2-2025 | 质量评定体系 第2部分：电子元器件及封装件检验用抽样方案的选择和使用 | 现行 | 2025-05-30 | 2025-12-01 |
| GB/T 45638-2025 | 使用条形码和二维符号的电子元器件产品包装标签 | 现行 | 2025-04-25 | 2025-11-01 |
| SJ/T 11280-2002 | 电子元器件详细规范 MYS4、MYS5、MYS6、MYS8防雷指示型过电压保护器 评定水平E | 现行 | 2002-10-30 | 2003-03-01 |
| SJ/T 10150-1991 | 电子元器件图形库 电阻器、电容器和电感器图形 | 现行 | 1991-04-02 | 1991-07-01 |
| SJ/T 11845.3-2022 | 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分：二极管 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 10798-2000 | 电子元器件详细规范 MF11型直热式负温度系数热敏电阻器 评定水平E | 现行 | 2000-08-16 | 2000-10-01 |
| SJ/T 10617-2017 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RT13型碳膜固定电阻器 评定水平E | 现行 | 2017-11-07 | 2018-01-01 |
| SJ/T 10874-2020 | 电子元器件详细规范 CL21型金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器 评定水平EZ | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| SJ/T 10568-2020 | 电子元器件详细规范 CT2型瓷介固定电容器 评定水平EZ | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |