The method for full width at half maximum of double crystal X-ray rocking curve of GaN single crystal substrate
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 19938-2005 | 无损检测 焊缝射线照相和底片观察条件 像质计推荐型式的使用 | 废止 | 2006-04-01 | 找相似 |
| GB/T 23901.5-2009 | 无损检测 射线照相底片像质 第5部分：双线型像质计 图像不清晰度的测定 | 废止 | 2009-12-01 | 找相似 |
| GB/T 23901.4-2009 | 无损检测 射线照相底片像质 第4部分：像质指数和像质表的实验评价 | 废止 | 2009-12-01 | 找相似 |
| GB/T 23901.3-2009 | 无损检测 射线照相底片像质 第3部分：黑色金属像质分类 | 废止 | 2009-12-01 | 找相似 |
| GB/T 23901.2-2009 | 无损检测 射线照相底片像质 第2部分：阶梯孔型像质计 像质指数的测定 | 废止 | 2009-12-01 | 找相似 |
| GB/T 23901.1-2009 | 无损检测 射线照相底片像质 第1部分：线型像质计 像质指数的测定 | 废止 | 2009-12-01 | 找相似 |
| GB/T 34504-2017 | 蓝宝石抛光衬底片表面残留金属元素测量方法 | 废止 | 2018-05-01 | 找相似 |
| DB11/T 2558-2026 | 特种设备射线检测底片数字化技术规范 | 现行 | 2026-10-01 | 找相似 |
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