Standard data element types with associated classification scheme for electric components—Part 6: IEC Common Data Dictionary (IEC CDD) quanlity guidelines
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 11845.2-2022 | 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分：光电耦合器件 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 10799-2000 | 电子元器件详细规范 MF53-1型直热式负温度系数热敏电阻器 评定水平E | 现行 | 2000-08-16 | 2000-10-01 |
| SJ/T 10630-1995 | 电子元器件制造防静电技术要求 | 现行 | 1995-04-22 | 1995-10-01 |
| SJ/T 11225-2000 | 电子元器件详细规范 3DA504型S波段硅脉冲功率晶体管 | 现行 | 2000-08-16 | 2000-10-01 |
| SJ/T 11226-2000 | 电子元器件详细规范 3DA505型L波段硅脉冲功率晶体管 | 现行 | 2000-08-16 | 2000-10-01 |
| SJ/T 10221-1991 | 电子元器件制造质量控制指南 | 现行 | 1991-05-28 | 1991-12-01 |
| SJ/T 10012-2018 | 电子元器件详细规范CBB23型双面金属化聚丙烯膜介质 直流固定电容器 评定水平 E | 现行 | 2018-04-30 | 2018-07-01 |
| GB/T 46556-2025 | 宇航用元器件应用等级分级及要求 | 即将实施 | 2025-12-02 | 2026-04-01 |
| GB/T 5594.3-2015 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法 | 现行 | 2015-05-15 | 2016-01-01 |
| JB/T 7575-2013 | 机械产品及元器件寒冷环境大气暴露试验方法和导则 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| GB/T 4475-1995 | 敏感元器件术语 | 现行 | 1995-07-24 | 1996-04-01 |
| GB/T 5593-2015 | 电子元器件结构陶瓷材料 | 现行 | 2015-05-15 | 2016-01-01 |
| GB/T 5594.4-2015 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法 | 现行 | 2015-05-15 | 2016-01-01 |
| GB/T 13965-2010 | 仪表元器件 术语 | 现行 | 2010-12-01 | 2011-05-01 |
| GB/T 41041-2021 | 宇航禁限用元器件控制要求 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |
| GB/T 29074-2012 | 宇航元器件鉴定要求 | 现行 | 2012-12-31 | 2013-07-01 |
| GB/T 46174-2025 | 空间环境 宇航用电子元器件空间环境效应模拟试验通用要求 | 现行 | 2025-10-05 | 2025-10-05 |
| GB/T 46748-2025 | 宇航用元器件应用验证综合评价方法 | 即将实施 | 2025-12-02 | 2026-04-01 |