Methods of measurement of resistivity，density and stacking factor of electrical steel strip and sheet
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 3781.9-2006 | 乙炔炭黑 第9部分：电阻率的测定 | 废止 | 2006-08-01 | 2007-01-01 |
| GB/T 6616-2009 | 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 1551-2009 | 硅单晶电阻率测定方法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 24521-2009 | 焦炭电阻率测定方法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-05-01 |
| GB/T 12476.9-2010 | 可燃性粉尘环境用电气设备 第9部分：试验方法 粉尘层电阻率的测定方法 | 废止 | 2010-08-09 | 2011-08-01 |
| KA/T 781-1998 | 高分辨自动地电阻率仪通用技术条件 | 现行 | 1998-11-10 | 1999-04-01 |
| JC/T 3073-2026 | 混凝土电阻率测试方法 | 即将实施 | 2026-07-15 | 2027-02-01 |
| GB/T 1672-1988 | 液体增塑剂体积电阻率的测定 | 现行 | 1988-02-23 | 1988-10-01 |
| T/CSTM 00252-2020 | 碳纤维体积电阻率试验方法 四探针法 | 现行 | 2020-07-24 | 2020-10-24 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/SBX 027-2019 | 向列相热致液晶单体电阻率的测定 直流电压法 | 现行 | 2019-12-24 | 2020-02-01 |
| YS/T 63.2-2023 | 铝用炭素材料检测方法 第2部分：室温电阻率的测定 | 现行 | 2023-04-21 | 2023-11-01 |
| JJG 508-2004 | 四探针电阻率测试仪 | 现行 | 2004-09-21 | 2005-03-21 |
| JJF 1618-2017 | 绝缘油介质损耗因数及体积电阻率测试仪校准规范 | 现行 | 2017-02-28 | 2017-05-28 |
| GB/T 4192-2026 | 电真空器件及电光源用钨、钼材料电阻率的测试方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 21450-2008 | 原油和石油产品 密度在638kg/m3到1074 kg/m3范围内的烃压缩系数 | 现行 | 2008-02-13 | 2008-09-01 |
| DL/T 1605-2016 | 联合循环电站气态燃料热值、压缩系数和相对密度的计算方法 | 现行 | 2016-08-16 | 2016-12-01 |