Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of arsenic in silicon
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 896-2024 | 高纯铌化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| T/NXCL 006-2021 | 高纯铍化学分析方法 铁、铬、镁、铜、铝 、锰、镍、锌和银 含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2021-11-11 | 2021-11-11 |
| DZ/T 0516-2025 | 硅酸盐岩石化学分析方法 锡含量的测定 过氧化钠熔融—电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2025-07-04 | 2025-10-01 |
| DZ/T 0515.1-2025 | 贵金属矿石化学分析方法 第1部分：金、铂、钯、铑、铱、锇和钌含量的测定 锡试金富集-电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2025-07-04 | 2025-10-01 |
| YS/T 1115.10-2026 | 铜、铅、锌原矿和尾矿化学分析方法 第 10 部分：金、银、钼、砷、钨、铋、镓、铟、铊、硒、碲和锗含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 即将实施 | 2026-04-15 | 2026-11-01 |
| YS/T 539.10-2026 | 镍基合金粉化学分析方法 第10部分：痕量杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 即将实施 | 2026-07-15 | 2027-02-01 |
| GB/T 22462-2008 | 钢表面纳米、亚微米尺度薄膜 元素深度分布的定量测定 辉光放电原子发射光谱法 | 现行 | 2008-10-30 | 2009-06-01 |
| GB/T 5617-2025 | 钢件表面淬火硬化层深度的测定 | 即将实施 | 2025-08-29 | 2026-03-01 |
| GB/T 9451-2005 | 钢件薄表面总硬化层深度或有效硬化层深度的测定 | 现行 | 2005-07-21 | 2006-01-01 |
| T/QGCML 3109-2024 | 基于深度学习产品表面缺陷识别系统 | 现行 | 2024-02-02 | 2024-02-16 |
| SL/T788-2019 | 水质 总氮、挥发酚、硫化物、阴离子表面活性剂和六价铬的测定 连续流动分析-分光光度法 | 现行 | 2019-11-06 | 2020-02-06 |
| GB/T 24514-2009 | 钢表面锌基和（或）铝基镀层 单位面积镀层质量和化学成分测定 重量法、电感耦合等离子体原子发射光谱法和火焰原子吸收光谱法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-05-01 |
| JB/T 8927-1999 | 铝及铝合金等离子体增强电化学表面陶瓷化(PECC)膜/有机涂层 | 现行 | 1999-06-28 | 2000-01-01 |
| GB/T 36401-2018 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告 | 现行 | 2018-06-07 | 2019-05-01 |
| GB/T 36052-2018 | 表面化学分析 扫描探针显微镜数据传送格式 | 现行 | 2018-03-15 | 2019-02-01 |
| GB/T 33498-2017 | 表面化学分析 纳米结构材料表征 | 现行 | 2017-02-28 | 2018-01-01 |
| GB/T 33502-2017 | 表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据记录与报告的规范要求 | 现行 | 2017-02-28 | 2018-01-01 |
| GB/T 28633-2012 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 强度标的重复性和一致性 | 现行 | 2012-07-31 | 2013-02-01 |