Surface chemical analysis—Depth profiling—Measurement of sputtering rate: mesh-replica method using a mechanical stylus profilometer
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 41072-2021 | 表面化学分析 电子能谱 紫外光电子能谱分析指南 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-04-01 |
| GB/T 38114-2019 | 纳米技术 石墨烯材料表面含氧官能团的定量分析化学滴定法 | 现行 | 2019-10-18 | 2020-09-01 |
| GB/T 40128-2021 | 表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| T/CSTM 01193-2024 | 酸化碳纳米管 表面元素及化学态分析方法 X射线光电子能谱 | 现行 | 2024-01-05 | 2024-04-05 |
| T/CNEA 249.9-2024 | 核工业用锆及锆合金化学分析方法 第9部分：表面氯含量的测定 离子选择电极法 | 现行 | 2024-12-04 | 2025-02-02 |
| T/CNEA 249.8-2024 | 核工业用锆及锆合金化学分析方法 第8部分：表面氟含量的测定 分光光度法 | 现行 | 2024-12-04 | 2025-02-02 |
| T/CNEA 249.10-2024 | 核工业用锆及锆合金化学分析方法 第10部分：表面钙、镁、钠量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 | 现行 | 2024-12-04 | 2025-02-02 |
| T/GAIA 033-2025 | 表面化学分析 扫描探针显微镜数据储存格式 | 现行 | 2025-05-28 | 2025-06-04 |
| GB/T 19502-2004 | 表面化学分析 辉光放电发射光谱方法通则 | 废止 | 2004-04-30 | 2004-12-01 |
| GB/T 20176-2006 | 表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度 | 废止 | 2006-03-27 | 2006-11-01 |
| GB/T 22461-2008 | 表面化学分析 词汇 | 废止 | 2008-10-30 | 2009-06-01 |
| GB/T 22571-2008 | 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准 | 废止 | 2008-12-11 | 2009-10-01 |
| GB/T 6609.35-2009 | 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第35部分：比表面积的测定 氮吸附法 | 废止 | 2009-04-15 | 2010-02-01 |
| GB/T 25187-2010 | 表面化学分析 俄歇电子能谱 - 选择仪器性能参数的表述 | 废止 | 2010-09-26 | 2011-08-01 |
| GB/T 28893-2012 | 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息 | 废止 | 2012-11-05 | 2013-06-01 |
| GB/T 28892-2012 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述 | 废止 | 2012-11-05 | 2013-06-01 |
| GB/T 29732-2013 | 表面化学分析 中等分辨率俄歇电子谱仪 元素分析用能量标校准 | 废止 | 2013-09-18 | 2014-06-01 |
| GB/T 32996-2016 | 表面化学分析 辉光放电发射光谱法分析金属氧化物膜 | 废止 | 2016-10-13 | 2017-09-01 |