Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 40407-2021 | 硅酸盐水泥熟料矿相X射线衍射分析方法 | 现行 | 2021-08-20 | 2022-03-01 |
| JY/T 0588-2020 | 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则 | 现行 | 2020-09-29 | 2020-12-01 |
| SN/T 5683-2024 | 硅铁和硅渣混合物中硅、硅铁（FeSi2）、α-碳化硅的定量相分析 X射线衍射K值法 | 现行 | 2024-12-31 | 2025-07-01 |
| DL/T 1151.22-2023 | 火力发电厂垢和腐蚀产物分析方法 第22部分：波长色散X射线荧光光谱法和X射线衍射法 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-06-28 |
| GB/T 6609.32-2009 | 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第32部分：a-三氧化二铝含量的测定 X-射线衍射法 | 现行 | 2009-04-15 | 2010-02-01 |
| HS/T 12-2006 | 滑石、绿泥石、菱镁石混合相的定量分析 X射线衍射仪法 | 现行 | 2007-03-28 | 2007-04-01 |
| YS/T 1344.3-2020 | 掺锡氧化铟粉化学分析方法 第3部分：物相分析 X射线衍射分析法 | 现行 | 2020-04-16 | 2020-10-01 |
| YB/T 172-2020 | 硅砖定量相分析 X射线衍射法 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| SY/T 5163-2018 | 沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物X射线衍射分析方法 | 现行 | 2018-10-29 | 2019-03-01 |
| GB/T 21782.13-2009 | 粉末涂料 第13部分：激光衍射法分析粒度 | 现行 | 2009-06-02 | 2010-02-01 |
| GB/T 30904-2014 | 无机化工产品 晶型结构分析 X射线衍射法 | 现行 | 2014-07-08 | 2014-12-01 |
| GB/T 36923-2018 | 珍珠粉鉴别方法 X射线衍射分析法 | 现行 | 2018-12-28 | 2019-07-01 |
| YS/T 1160-2016 | 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法 | 现行 | 2016-07-11 | 2017-01-01 |
| DL/T 1151.22-2012 | 火力发电厂垢和腐蚀产物分析方法 第22部分：X-射线荧光光谱和X-射线衍射分析 | 废止 | 2012-08-23 | 2012-12-01 |
| SY/T 5163-2010 | 沉积岩中粘土矿物和常见非粘土矿物X衍射分析方法 | 废止 | 2010-05-24 | 2010-10-01 |
| YS/T 1178-2017 | 铝渣物相分析X射线衍射法 | 废止 | 2017-11-07 | 2018-04-01 |
| SY/T 6210-1996 | 沉积岩中粘土矿物总量和常见非粘土矿物X射线衍射定量分析方法 | 废止 | 1996-12-25 | 1997-06-30 |
| SY/T 5163-1995 | 沉积岩粘土矿物相对含量X 射线衍射分析方法 | 废止 | 1995-12-25 | 1996-06-30 |