High frequency inductive components—Electrical characteristics and measuring method—Part 1：Nanohenry range chip inductor
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 43690-2024 | 成像衍射光学元件衍射效率的测量方法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| GB/T 22319.6-2023 | 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-01-01 |
| GB/T 22319.7-2015 | 石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量 | 现行 | 2015-06-02 | 2016-02-01 |
| GB/T 22319.9-2018 | 石英晶体元件参数的测量 第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-10-01 |
| GB/T 22319.11-2018 | 石英晶体元件参数的测量 第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-10-01 |
| GB/T 44605-2024 | 激光器和激光相关设备 激光光学元件吸收分布测量 光热成像法 | 现行 | 2024-09-29 | 2025-04-01 |
| SJ/T 10182-1991 | 波导和同轴元件功率测量方法 | 现行 | 1991-05-28 | 1991-12-01 |
| SJ/T 11211-1999 | 石英晶体元件参数的测量 第5部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法 | 现行 | 1999-08-26 | 1999-12-01 |
| SJ/T 11212-1999 | 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量 | 现行 | 1999-08-26 | 1999-12-01 |
| SJ/T 10183-1991 | 波导和同轴元件衰减测量方法 | 现行 | 1991-05-28 | 1991-12-01 |
| GB/T 22453-2025 | 激光用非线性光学晶体元件性能测量方法 | 现行 | 2025-04-25 | 2025-08-01 |
| GB/T 43690-2024 | 成像衍射光学元件衍射效率的测量方法（外文版EN） | 现行 | 2024-12-31 | |
| GB/T 22453-2025 | 激光用非线性光学晶体元件性能测量方法（外文版EN） | 现行 | 2025-12-09 | |
| CB/T 4314-2013 | 水声实用压电陶瓷元件性能参数的测量与计算方法 | 现行 | 2013-07-22 | 2013-12-01 |
| DB51/T 1556-2012 | 核燃料元件用定长管测量方法 | 废止 | 2012-12-20 | 2013-03-01 |
| GB/T 5076-2025 | 具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量 | 即将实施 | 2025-12-02 | 2026-07-01 |
| GB/T 22319.8-2025 | 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具 | 即将实施 | 2025-12-31 | 2026-07-01 |
| GB/T 24853-2010 | 小麦、黑麦及其粉类和淀粉糊化特性测定 快速粘度仪法 | 现行 | 2010-06-30 | 2011-01-01 |