| SJ/T 10510-1994 | 电子设备用瓷介预调可变电容器总规范 | 废止 | 1994-10-01 | 相似 |
| DB37/T 1941-2011 | 电子设备用超级电容器通用技术条件 | 废止 | 2011-11-01 | —— |
| GB/T 11302-1989 | 电子设备用B 类微调可变电容器空白详细规范 | 现行 | 1990-01-01 | 相似 |
| GB/T 11303-1989 | 电子设备用C 类预调可变电容器空白详细规范 | 现行 | 1990-01-01 | 相似 |
| GB/T 11301-1989 | 电子设备用装有整体C 类预调电容器的A 类调谐可变电容器空白详细规范 | 现行 | 1990-01-01 | 相似 |
| GB/T 11300-1989 | 电子设备用A 类调谐可变电容器空白详细规范 | 现行 | 1990-01-01 | 相似 |
| GB/T 5095.5-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验 | 现行 | 1998-10-01 | 相似 |
| GB/T 5095.15-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第15部分:接触件和引出端的机械试验 第八篇:试验15h接触件固定机构耐工具使用性 | 现行 | 1998-10-01 | 相似 |
| GB/T 15654-1995 | 电子设备用膜固定电阻网络 第1部分:总规范 | 现行 | 1996-04-01 | 相似 |
| GB/T 12276-1990 | 电子设备用固定电阻器 第七部分:分规范 各电阻器不可单独测量的固定电阻网络 (可供认证用) | 现行 | 1990-10-01 | 相似 |
| GB/T 12277-1990 | 电子设备用固定电阻器 第七部分:空白详细规范 各电阻器不可单独测量的固定电阻网络 评定水平 E (可供认证用) | 现行 | 1990-10-01 | 相似 |
| GB/T 5735-1985 | 电子设备用固定电阻器 第五部分:空白详细规范 精密固定电阻器 评定水平E (可供认证用) | 现行 | 1986-09-01 | 相似 |
| GB/T 5732-1985 | 电子设备用固定电阻器 第四部分:分规范 功率型固定电阻器(可供认证用) | 现行 | 1986-09-01 | 相似 |
| GB/T 5730-1985 | 电子设备用固定电阻器 第二部分:分规范 低功率非线绕固定电阻器 (可供认证用) | 现行 | 1986-09-01 | 相似 |
| GB/T 5733-1985 | 电子设备用固定电阻器 第四部分:空白详细规范 功率型固定电阻器 评定水平E (可供认证用) | 现行 | 1986-09-01 | 相似 |
| GB/T 5731-1985 | 电子设备用固定电阻器 第二部分:空白详细规范 低功率非线绕固定电阻器 评定水平E(可供认证用) | 现行 | 1986-09-01 | 相似 |
| GB/T 5734-1985 | 电子设备用固定电阻器 第五部分:分规范 精密固定电阻器 (可供认证用) | 现行 | 1986-09-01 | 相似 |
| GB/T 5729-2003 | 电子设备用固定电阻器 第1部分:总规范 | 现行 | 2004-08-01 | 相似 |