| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| JC/T 2342-2015 | 氮化硅材料相含量分析方法 | 现行 | 2015-07-14 | 2016-01-01 |
| GB/T 16175-2008 | 医用有机硅材料生物学评价试验方法 | 现行 | 2008-01-22 | 2008-09-01 |
| GB/T 38976-2020 | 硅材料中氧含量的测试 惰性气体熔融红外法 | 现行 | 2020-07-21 | 2021-06-01 |
| GB/T 29850-2013 | 光伏电池用硅材料补偿度测量方法 | 现行 | 2013-11-12 | 2014-04-15 |
| GB/T 29852-2013 | 光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法 | 现行 | 2013-11-12 | 2014-04-15 |
| T/CPIA 0060-2024 | 铸造单晶硅材料性能评价技术规范 | 现行 | 2024-03-10 | 2024-03-15 |
| T/CASAS 009-2019 | 半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2019-11-25 | 2019-11-25 |
| YS/T 1164-2016 | 硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 | 现行 | 2016-07-11 | 2017-01-01 |
| GB/T 4298-1984 | 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法 | 废止 | 1984-03-28 | 1985-03-01 |
| DB35/T 1146-2011 | 硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2011-04-10 | 2011-07-10 |
| T/CASAS 009-2019 | 半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2019-11-25 | 2019-11-25 |
| YS/T 1747-2025 | 硅材料中氢含量的测定 惰性气体熔融热导法 | 现行 | 2025-04-10 | 2025-11-01 |
| GB/T 26872-2011 | 电触头材料金相图谱 | 现行 | 2011-07-29 | 2011-12-01 |
| JB/T 8753-1998 | 电触头材料金相图谱 | 废止 | 1998-05-26 | 1998-12-01 |
| CB/T 3409-1991 | 舰船材料金相图谱 | 现行 | 1991-11-08 | 1992-07-01 |
| YD/T 6002-2024 | 网络空间安全仿真 知识图谱构建技术框架 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-02-01 |
| DL/T 2725-2023 | 电网设备知识图谱构建技术导则 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-06-28 |
| GB/T 22504.1-2008 | 粮油检验 粮食感官检验辅助图谱 第1部分：小麦 | 现行 | 2008-11-04 | 2009-01-20 |