The transparent conductive glass withindium-tin oxide films used in liquid crystal display
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 23362.2-2009 | 高纯氢氧化铟化学分析方法 第2部分：锡量的测定 苯基荧光酮分光光度法 | 现行 | 2009-03-19 | 2010-01-01 |
| GB/T 23364.5-2009 | 高纯氧化铟化学分析方法 第5部分：氯量的测定 硫氰酸汞分光光度法 | 现行 | 2009-03-19 | 2010-01-01 |
| GB/T 23364.1-2009 | 高纯氧化铟化学分析方法 第1部分：砷量的测定 原子荧光光谱法 | 现行 | 2009-03-19 | 2010-01-01 |
| GB/T 23364.2-2009 | 高纯氧化铟化学分析方法 第2部分：锡量的测定 苯基荧光酮分光光度法 | 现行 | 2009-03-19 | 2010-01-01 |
| GB/T 23364.4-2009 | 高纯氧化铟化学分析方法 第4部分：铝、铁、铜、锌、镉、铅和铊量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2009-03-19 | 2010-01-01 |
| GB/T 23364.6-2009 | 高纯氧化铟化学分析方法 第6部分：灼减量的测定 称量法 | 现行 | 2009-03-19 | 2010-01-01 |
| GB/T 23364.3-2009 | 高纯氧化铟化学分析方法 第3部分：锑量的测定 原子荧光光谱法 | 现行 | 2009-03-19 | 2010-01-01 |
| JB/T 7777.5-2008 | 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第5部分：火焰原子吸收光谱法测定镍、锌和铟量 | 现行 | 2008-02-01 | 2008-07-01 |
| JB/T 7777.2-2008 | 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第2部分：EDTA容量法测定铟量 | 现行 | 2008-02-01 | 2008-07-01 |
| JB/T 7777.3-2008 | 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第3部分：丁二酮肟分光光度法测定镍量 | 现行 | 2008-02-01 | 2008-07-01 |
| JB/T 7777.1-2008 | 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第1部分：碘量法测定锡量 | 现行 | 2008-02-01 | 2008-07-01 |
| JB/T 7777.4-2008 | 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第4部分：PAN分光光度法测定锌量 | 现行 | 2008-02-01 | 2008-07-01 |
| YS/T 1344.3-2020 | 掺锡氧化铟粉化学分析方法 第3部分：物相分析 X射线衍射分析法 | 现行 | 2020-04-16 | 2020-10-01 |
| YS/T 1344.2-2020 | 掺锡氧化铟粉化学分析方法 第2部分：硅含量的测定 钼蓝光度法 | 现行 | 2020-04-16 | 2020-10-01 |
| YS/T 1344.1-2020 | 掺锡氧化铟粉化学分析方法 第1部分：铁、铝、铅、镍、铜、镉、铬和铊含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2020-04-16 | 2020-10-01 |
| YS/T 1353-2020 | 掺锡氧化铟粉 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| GB/T 23362.4-2009 | 高纯氢氧化铟化学分析方法 第4部分：铝、铁、铜、锌、镉、铅和铊量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2009-03-19 | 2010-01-01 |
| GB/T 23362.3-2009 | 高纯氢氧化铟化学分析方法 第3部分：锑量的测定 原子荧光光谱法 | 现行 | 2009-03-19 | 2010-01-01 |