Non-destructive testing—Nonlinear ultrasonic testing method of microstructure damage
现行
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 33260.5-2018 | 检出能力 第5部分：非线性校准情形检出限的确定方法 | 现行 | 2018-06-07 | 2019-01-01 |
| GB/T 16515-2023 | 电子设备用电位器 第5部分:分规范 单圈旋转低功率线绕和非线绕电位器 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-01-01 |
| GB/T 7017-1986 | 电阻器非线性测量方法 | 废止 | 1986-11-20 | 1987-09-01 |
| GB/T 43023-2023 | 射频声表面波（SAW）器件和体声波（BAW）器件的非线性测量指南 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-01-01 |
| GB/T 29820.2-2024 | 流量测量装置校准和使用不确定度的评估 第2部分：非线性校准关系 | 现行 | 2024-12-31 | 2025-07-01 |
| SJ/T 10617-2017 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RT13型碳膜固定电阻器 评定水平E | 现行 | 2017-11-07 | 2018-01-01 |
| SJ/T 10872-2000 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ15型金属膜固定电阻器 评定水平E | 现行 | 2000-08-16 | 2000-10-01 |
| SJ/T 10774-2017 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RT14型碳膜固定电阻器 评定水平E | 现行 | 2017-11-07 | 2018-01-01 |
| NB/T 42152-2018 | 非线性金属氧化物电阻片通用技术要求 | 现行 | 2018-04-03 | 2018-07-01 |
| GB/T 22453-2025 | 激光用非线性光学晶体元件性能测量方法 | 现行 | 2025-04-25 | 2025-08-01 |
| GB/T 22453-2025 | 激光用非线性光学晶体元件性能测量方法（外文版EN） | 现行 | 2025-12-09 | |
| GB/T 22452-2025 | 硼酸盐非线性光学单晶元件通用规范（外文版EN） | 现行 | 2025-12-09 | |
| SJ/T 10775-2013 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ14型金属膜固定电阻器 评定水平E | 现行 | 2013-10-17 | 2013-12-01 |
| SJ/T 11113-2013 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ13型金属膜固定电阻器 评定水平E | 现行 | 2013-10-17 | 2013-12-01 |
| DL/T 294.2-2011 | 发电机灭磁及转子过电压保护装置技术条件 第2部分：非线性电阻 | 废止 | 2011-07-08 | 2011-11-01 |
| SJ/T 10774-2000 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RT14型碳膜固定电阻器 评定水平E | 废止 | 2000-08-16 | 2000-10-01 |
| SJ/T 10775-2000 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ14型金属膜固定电阻器 评定水平E | 废止 | 2000-08-16 | 2000-10-01 |
| SJ/T 11113-1999 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ13型金属膜固定电阻器 评定水平E | 废止 | 1999-08-26 | 1999-12-01 |