首页/GB/T 31726-2015 相似标准

塑料薄膜防雾性试验方法

Test method for anti-fogging property of plastic film

GB/T 31726-2015推荐性国家标准

现行

上传时间：2026-03-02
格式：pdf

GB/T 31726-2015 相似标准 第14页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
GB/T 6616-2009半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法废止2009-10-302010-06-01
GB/T 25273-2010液晶显示器（LCD）用薄膜 雾度测定方法 积分球法废止2010-09-262011-08-01
T/XAI 7-2021覆晶薄膜耐弯折性能测试方法现行2021-04-122021-04-16
T/XAI 8-2021覆晶薄膜化锡厚度测试方法 库仑法现行2021-04-122021-04-16
T/XAI 9-2021覆晶薄膜油墨硬度测试方法现行2021-04-122021-04-16
T/CSPSTC 25-2019硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法现行2019-08-282019-11-15
JB/T 14808-2025电气绝缘用聚酯薄膜低聚物含量测试方法现行2025-05-092025-11-01
T/XAI 9-2021覆晶薄膜油墨硬度测试方法现行2021-04-122021-04-16
T/XAI 8-2021覆晶薄膜化锡厚度测试方法 库仑法现行2021-04-122021-04-16
T/HNZB 21-2024温室气体 产品碳足迹 量化方法与要求 再生PETG 聚酯薄膜现行2024-12-152025-01-01
T/HNZB 20-2024温室气体 产品碳足迹 量化方法与要求 原生PETG聚酯薄膜现行2024-12-152025-01-01
T/HNJB 17-2024温室气体 产品碳足迹 量化方法与要求 再生PETG 聚酯薄膜现行2024-12-152025-01-01
HG/T 6518-2026聚乙烯醇缩丁醛（PVB）薄膜中三甘醇二异辛酸酯（3GO）含量测定方法即将实施2026-06-012026-12-01
GB/T 31838.9-2026固体绝缘材料 介电和电阻特性 第9部分：测定介电特性(AC方法) 相对介电常数和介质损耗因数 绝缘薄膜的接触电极法即将实施2026-07-302027-02-01
GB/T 42709.21-2026半导体器件 微电子机械器件 第21部分：MEMS薄膜材料泊松比测试方法即将实施2026-07-302027-02-01
GB/T 42709.22-2026半导体器件 微电子机械器件 第22部分：柔性衬底导电薄膜机电拉伸测试方法即将实施2026-07-302027-02-01
GB/T 47239.6-2026半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第6部分：柔性导电薄膜的薄层电阻测试方法即将实施2026-08-282027-03-01
NB/T 11342.2-2023光伏发电站柔性薄膜光伏组件机械性能测试 第2部分：拉伸现行2023-12-282024-06-28