Environmental testing - Part 2: Test methods - Test Kc: Sulphur dioxide test for contacts and connections
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 16649.1-2006 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第1部分:物理特性 | 现行 | 2006-03-14 | 2006-07-01 |
| GB/T 22351.1-2008 | 识别卡 无触点的集成电路卡 邻近式卡 第1部分：物理特性 | 现行 | 2008-08-06 | 2009-01-01 |
| GB/T 16649.12-2010 | 识别卡 集成电路卡 第12部分：带触点的卡-USB电气接口和操作规程 | 现行 | 2010-12-01 | 2011-04-01 |
| GB/T 22351.2-2010 | 识别卡 无触点的集成电路卡 邻近式卡 第2部分：空中接口和初始化 | 现行 | 2010-12-01 | 2011-04-01 |
| GB/T 16649.5-2002 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第5部分:应用标识符的国家编号体系和注册规程 | 现行 | 2002-05-08 | 2002-10-01 |
| GB/T 42756.2-2023 | 卡及身份识别安全设备 无触点接近式对象 第2部分：射频功率和信号接口 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-12-01 |
| GB/T 42756.4-2023 | 卡及身份识别安全设备 无触点接近式对象 第4部分：传输协议 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-12-01 |
| GB/T 42756.3-2023 | 卡及身份识别安全设备 无触点接近式对象 第3部分：初始化和防冲突 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-12-01 |
| GB/T 42756.1-2023 | 卡及身份识别安全设备 无触点接近式对象 第1部分:物理特性 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-12-01 |
| GB/T 16649.2-2024 | 识别卡 集成电路卡 第2部分：带触点的卡 触点的尺寸和位置 | 现行 | 2024-08-23 | 2025-03-01 |
| GB/T 16649.3-2024 | 识别卡 集成电路卡 第3部分：带触点的卡 电接口和传输协议 | 现行 | 2024-08-23 | 2025-03-01 |
| GB/T 21711.3-2025 | 基础机电继电器 第3部分：强制定位（机械联锁）触点继电器 | 现行 | 2025-05-30 | 2025-05-30 |
| GB/T 22351.3-2008 | 识别卡 无触点的集成电路卡 邻近式卡 第3部分：防冲突和传输协议 | 现行 | 2008-08-06 | 2009-01-01 |
| SJ/T 11231-2001 | 集成电路卡通用规范 第5部分：带触点的IC卡模块 | 废止 | 2001-04-13 | 2001-05-01 |
| GB/T 16649.2-1996 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第2部分:触点的尺寸和位置 | 废止 | 1996-12-17 | 1997-07-01 |
| GB/T 16649.3-1996 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第3部分:电信号和传输协议 | 废止 | 1996-12-17 | 1997-07-01 |
| GB/T 16649.1-1996 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第1部分:物理特性 | 废止 | 1996-12-17 | 1997-07-01 |
| GB/T 17553.1-1998 | 识别卡 无触点集成电路卡 第1部分:物理特性 | 废止 | 1998-11-05 | 1999-06-01 |