Non-destructive testing—Measurement and evaluation of the X-ray tube voltage—Part 1: Voltage divider method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| JB/T 9394-2011 | 无损检测仪器 X射线应力测定仪技术条件 | 废止 | 2011-12-20 | 2012-04-01 |
| JB/T 12727.2-2020 | 无损检测仪器 试样 第2部分：射线检测试样 | 现行 | 2020-04-16 | 2021-01-01 |
| JB/T 7808-2010 | 无损检测仪器 工业X射线探伤机主参数系列 | 现行 | 2010-02-21 | 2010-07-01 |
| JB/T 5075-2004 | 无损检测 射线照相检测用金属增感屏 | 现行 | 2004-06-17 | 2004-11-01 |
| JB/T 13156-2017 | 无损检测 工业射线照相底片光学密度的测定方法 | 现行 | 2017-04-12 | 2018-01-01 |
| JB/T 13465-2018 | 无损检测 低功率微焦点X射线数字成像检测方法 | 现行 | 2018-04-30 | 2018-12-01 |
| JB/T 11278-2012 | 无损检测仪器 工业X射线探伤机 通用技术条件 | 现行 | 2012-05-24 | 2012-11-01 |
| JB/T 11234-2011 | 无损检测仪器 工业软X射线探伤机 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-04-01 |
| JB/T 11607-2013 | 无损检测仪器 工业用X射线轮胎检测系统 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 6220-2011 | 无损检测仪器 射线探伤用密度计 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-04-01 |
| JB/T 5453-2011 | 无损检测仪器 工业X射线图像增强器成像系统 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-04-01 |
| JB/T 6221-2012 | 无损检测仪器 工业X射线探伤机电气通用技术条件 | 现行 | 2012-05-24 | 2012-11-01 |
| GB/T 23901.2-2019 | 无损检测 射线照相检测图像质量 第2部分：阶梯孔型像质计像质值的测定 | 现行 | 2019-06-04 | 2020-01-01 |
| GB/T 12604.12-2021 | 无损检测 术语 第12部分：工业射线计算机层析成像检测 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |
| GB/T 23901.4-2019 | 无损检测 射线照相检测图像质量 第4部分：像质值和像质表的实验评价 | 现行 | 2019-06-04 | 2020-01-01 |
| GB/T 23901.5-2019 | 无损检测 射线照相检测图像质量 第5部分：双丝型像质计图像不清晰度的测定 | 现行 | 2019-06-04 | 2020-01-01 |
| GB/T 23901.1-2019 | 无损检测 射线照相检测图像质量 第1部分：丝型像质计像质值的测定 | 现行 | 2019-05-10 | 2019-12-01 |
| GB/T 41123.1-2021 | 无损检测 工业射线计算机层析成像检测 第1部分：原理、设备和样品 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |