Non-destructive testing—Measurement and evaluation of the X-ray tube voltage—Part 3:Spectrometric method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 12604.2-1990 | 无损检测术语 射线检测 | 废止 | 1990-12-18 | 1991-12-01 |
| GB/T 19348.2-2003 | 无损检测 工业射线照相胶片 第2部分:用参考值方法控制胶片处理 | 废止 | 2003-10-29 | 2004-05-01 |
| GB/T 19348.1-2003 | 无损检测 工业射线照相胶片 第1部分:工业射线照相胶片系统的分类 | 废止 | 2003-10-29 | 2004-05-01 |
| GB/T 19938-2005 | 无损检测 焊缝射线照相和底片观察条件 像质计推荐型式的使用 | 废止 | 2005-09-19 | 2006-04-01 |
| GB/T 21355-2008 | 无损检测 计算机射线照相系统的分类 | 废止 | 2008-01-14 | 2008-05-01 |
| GB/T 7704-2008 | 无损检测 Ｘ射线应力测定方法 | 废止 | 2008-07-30 | 2009-02-01 |
| GB/T 23901.5-2009 | 无损检测 射线照相底片像质 第5部分：双线型像质计 图像不清晰度的测定 | 废止 | 2009-05-26 | 2009-12-01 |
| GB/T 23901.4-2009 | 无损检测 射线照相底片像质 第4部分：像质指数和像质表的实验评价 | 废止 | 2009-05-26 | 2009-12-01 |
| GB/T 23901.3-2009 | 无损检测 射线照相底片像质 第3部分：黑色金属像质分类 | 废止 | 2009-05-26 | 2009-12-01 |
| GB/T 23901.2-2009 | 无损检测 射线照相底片像质 第2部分：阶梯孔型像质计 像质指数的测定 | 废止 | 2009-05-26 | 2009-12-01 |
| GB/T 23901.1-2009 | 无损检测 射线照相底片像质 第1部分：线型像质计 像质指数的测定 | 废止 | 2009-05-26 | 2009-12-01 |
| GB/T 26642-2011 | 无损检测 金属材料计算机射线照相检测方法 | 废止 | 2011-06-16 | 2012-03-01 |
| GB/T 26838-2011 | 无损检测仪器 携带式工业X射线探伤机 | 废止 | 2011-07-29 | 2011-12-01 |
| JB/T 15121-2025 | 无损检测仪器 X射线数字成像 钢丝子午线轮胎检测系统 | 现行 | 2025-05-09 | 2025-11-01 |
| JB/T 9394-2025 | 无损检测仪器 X射线应力测定仪 | 即将实施 | 2025-12-17 | 2026-07-01 |
| JB/T 15618-2026 | 无损检测仪器开放式微焦点X射线源 | 即将实施 | 2026-06-01 | 2026-12-01 |
| GB/T 39427-2026 | 无损检测 射线检测 工业伽马射线源尺寸测定 | 即将实施 | 2026-07-02 | 2027-02-01 |
| GB/T 19943-2026 | 无损检测 金属材料X或伽马射线胶片照相检测 基本规则 | 即将实施 | 2026-07-30 | 2027-02-01 |