| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 6616-2009 | 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 1551-2009 | 硅单晶电阻率测定方法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 24521-2009 | 焦炭电阻率测定方法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-05-01 |
| KA/T 781-1998 | 高分辨自动地电阻率仪通用技术条件 | 现行 | 1998-11-10 | 1999-04-01 |
| JC/T 3073-2026 | 混凝土电阻率测试方法 | 即将实施 | 2026-07-15 | 2027-02-01 |
| GB/T 1672-1988 | 液体增塑剂体积电阻率的测定 | 现行 | 1988-02-23 | 1988-10-01 |
| GB/T 11297.7-1989 | 锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法 | 现行 | 1989-03-31 | 1990-01-01 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/SBX 027-2019 | 向列相热致液晶单体电阻率的测定 直流电压法 | 现行 | 2019-12-24 | 2020-02-01 |
| YS/T 63.2-2023 | 铝用炭素材料检测方法 第2部分：室温电阻率的测定 | 现行 | 2023-04-21 | 2023-11-01 |
| JJG 508-2004 | 四探针电阻率测试仪 | 现行 | 2004-09-21 | 2005-03-21 |
| JJF 1618-2017 | 绝缘油介质损耗因数及体积电阻率测试仪校准规范 | 现行 | 2017-02-28 | 2017-05-28 |
| GB/T 4192-2026 | 电真空器件及电光源用钨、钼材料电阻率的测试方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| YS/T 124.5-2010 | 炭素制品生产炉窑 热平衡测定与计算方法 第5部分：石墨化电阻炉 | 现行 | 2010-11-10 | 2011-03-01 |
| HJ1119-2020 | 排污许可证申请与核发技术规范 石墨及其他非金属矿物制品制造 | 现行 | 2020-03-04 | 2020-03-04 |
| GB/T 18068.4-2012 | 非金属矿物制品业卫生防护距离 第4部分：石墨碳素制品业 | 废止 | 2012-06-29 | 2012-08-01 |
| GB/T 43682-2024 | 纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-07-01 |