Surface chemical analysis—Vocabulary—Part 1:General terms and terms used in spectroscopy
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 19502-2004 | 表面化学分析 辉光放电发射光谱方法通则 | 废止 | 2004-04-30 | 2004-12-01 |
| GB/T 20176-2006 | 表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度 | 废止 | 2006-03-27 | 2006-11-01 |
| GB/T 20175-2006 | 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法 | 废止 | 2006-03-27 | 2006-11-01 |
| GB/T 22571-2008 | 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准 | 废止 | 2008-12-11 | 2009-10-01 |
| GB/T 25187-2010 | 表面化学分析 俄歇电子能谱 - 选择仪器性能参数的表述 | 废止 | 2010-09-26 | 2011-08-01 |
| GB/T 28893-2012 | 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息 | 废止 | 2012-11-05 | 2013-06-01 |
| GB/T 28892-2012 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述 | 废止 | 2012-11-05 | 2013-06-01 |
| GB/T 29732-2013 | 表面化学分析 中等分辨率俄歇电子谱仪 元素分析用能量标校准 | 废止 | 2013-09-18 | 2014-06-01 |
| GB/T 32996-2016 | 表面化学分析 辉光放电发射光谱法分析金属氧化物膜 | 废止 | 2016-10-13 | 2017-09-01 |
| GB/Z 122-2025 | 表面化学分析 辉光放电质谱 操作程序 | 现行 | 2025-12-03 | |
| GB/T 47073-2026 | 表面化学分析 深度剖析 中能离子散射术对硅基底上纳米尺度重金属氧化物薄膜的无损深度剖析 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/Z 129-2026 | 表面化学分析 电子能谱 纳米颗粒包覆层厚度和组成的测量 | 现行 | 2026-01-28 | |
| GB/Z 134-2026 | 表面化学分析 生物传感功能化玻璃基底的表征 | 现行 | 2026-01-28 | |
| GB/T 34326-2026 | 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度的测量方法 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 47065-2026 | 表面化学分析表面表征 共聚焦荧光显微镜横向分辨的测量 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 47101-2026 | 表面化学分析 扫描探针显微术 用原子力显微镜和两点JKR法测量柔顺材料弹性模量的程序 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 14850-2020 | 气体分析词汇 | 现行 | 2020-03-31 | 2021-02-01 |
| GB/T 14850-1993 | 气体分析词汇 | 废止 | 1993-12-30 | 1994-10-01 |